СМАРТ-МИМ для испытаний микрокомпьютеров и интерфейсных модулей
СМАРТ-МИМ предназначен для автоматизированной настройки и испытаний при серийном производстве цифровых модулей 3 типов.
Основные характеристики:
проверка работоспособности встроенной и динамической оперативной памяти
проверка работоспособности встроенной памяти FLASH типа NAND
испытание протоколов и линий (двунаправленный, независимый обмен информацией по линиям GPIO, по шине I2C, по шине SPI, последовательного асинхронного порта ввода-вывода типа UART, LVDS, сигналов прерывания и сброса
проверка характеристик токопотребления по цепям питания и управления